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近日，由中国半导体行业协会封装分会主办、天水市工业和信息化局和天水华天电子集团股份有限公司共同承办的封装测试年会于2020年11月8日-11月10日在甘肃省天水市召开。 来自业内各单位的近800多名代表参加了本次年会。集成电路产业作为国家战略性产业迎来了发展的关键期，创新、开放、绿色、融合 是IC产业的发展方向，而集成电路封装测试是产业链的重要环节，也将迎来重大发展机遇。本次会议以“5G引领、AI助力，协同创新、共赢发展”为主题，对封装 工艺技术、封装测试技术与设备、材料的关联等行业热点问题进行研讨。会议邀请了政府领导及业界知名专家学者阐述我国半导体产业政策和发展方向，同时发布了中国半导体封测产业新调研报告。我公司作为微电子行业微污染控制领域的服务商，致力于为半导体封装客户提供专业可靠的静电放电、微粒子污染监测、制程改进量测等相关产品与技术服务。为深入市场，抓住行业发展的机遇，积极参加了本次封装峰会。

会议现场，Winifred参会代表向客户介绍公司微污染控制应用产品并耐心帮助客户解答遇到的实际困扰。

Winifred有适用于半导体封装测试行业的多种应用产品，从无尘室专用清洁工具、静电放电防护控制制品到微粒子测量排查仪器。无论传统引线键合封装，Flip Chip覆晶封装，或是SoS系统级封装、2.5D/3D多层TSV堆叠封装，我们的产品都可以帮助您缓解制程微污染不良，进一步提升产品生产良率。

1.Onfilter EOS filter and Megalin GZ1950 设备接地监测系统—适用于电气或电子制造工厂设备接地监控，设备电源、伺服或接地电磁干扰的检测过滤

2.PFK TC Wafer —在线实时测量半导体工厂内PVD、CVD、Oven炉等Chamber内表现在Wafer表面的温度变化趋势。

3.Simco-Ion NOVX 3362MP and 5832N Ion Blower—高效率高可靠性的离子风机闭环控制系统。NOVX 3362可在线周期性测试5832N或其它离子风机的效能，无需使用传统CPM进行移动测试，帮助节省人力成本。所配置的闭环控制功能可精准控制5832N的平衡度在±1V以内。

4.Simco-Ion Ionbar 5225S and 5635MP Bar—适用于半导体行业各类制造检测机台内EFEM或制程Chamber内，可以帮助缓解ESD和ESA的风险。

5.Cyber Optics Wafer Sense APS and AMS—类晶圆的产品设计，适用于半导体行业制程机台内颗粒，湿度，机械部件震动、水平等的过程监控，帮助工程师解决一些不良困扰。

6.Foamtec机台舱体内部PM用无尘钻石抹布—有效的清除chamber内的污垢。改善particle产生的良率问题。解决因为使用不正确清洁方法造成的舱体刮伤问题。大量减少Fab PM时的VOC问题。缩短PM时间，改善PM后的通过比例。改善蚀刻率，Arcing，CMP刮伤问题。改善机台Chamber金属离子污染问题。改善Heater、ESC、RPS和管道内的particle问题。

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